NTNU IME Elektronikk og telekommunikasjon
Toppmeny
Wafer

TF03 Selvtest av digitale systemer, fordypningstema

Informasjonssider for faget.

Siste nytt:

31.05. Pga forespørsler fra noen studenter, vil vi også i år tilby temaet: SELVTEST av digitale systemer Nyere prinsipper og metoder for selvtest vil bli gjennomgått. Spesielt vil Aritmetisk BIST og STUMPS-arkitektur for logisk selvtest bli presentert. Emnet kjøres hvis minst 4 studenter melder seg. Det blir gitt som en kollokvieserie, der alle studentene gjennomgår utvalgte deler av stoffet.
31.05. Websidene oppdateres for nytt semester.

Redaktør: Instituttstyrer Ragnar Hergum, Webansvarlig: Bjørn B. Larsen, Sist endret: 31.05.2006 - 11:32